以及复杂的前期机械抛光，干燥干净，即可得到需观察部分结构。主要用于扫描电子显微镜，电子探针，扫描探针等测试的制样中，可以避免传统机械抛光方法造成的表面不平、磨料嵌入样品表面、软材料发生扭曲、颗粒进入孔洞等缺点。截面抛光仪采用离子束刻蚀样品，得到需观察部分结构。对由硬材料和软
P-XJ-19-00116206第2次阳城国际-硫酸、盐酸试剂询价公告-第2次
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